Carl John Frosch (* 6. September 1908; † 18. Mai 1984)[1][2] war ein US-amerikanischer Chemiker, der an den Bell Laboratories 1955 mit seinem Techniker Lincoln J. Derick (genannt Link Derick) die Siliziumdioxid-Maskierung von Silizium-Halbleitern erfand, ein wichtiger Teil der Planartechnik zur Herstellung von integrierten Schaltungen[3] (siehe auch thermische Oxidation von Silizium).